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許多品牌的工業(yè)內(nèi)窺鏡都具有測量功能。那工業(yè)內(nèi)窺鏡的測量方法有哪些?在我們的日常生活、學(xué)習(xí)和工作中,我們都接觸過直接從儀器讀取數(shù)值的絕對測量方法,以及通過將測量參數(shù)與標(biāo)準(zhǔn)量(校準(zhǔn)件)進(jìn)行比較來獲得測量參數(shù)的比較測量方法。這些測量方法也可以應(yīng)用于工業(yè)內(nèi)窺鏡。因此,工業(yè)內(nèi)窺鏡的測量方法也包括比較測量法和絕對測量法。比較測量方法相對簡單。以下重點(diǎn)介紹絕對測量方法,這也是工業(yè)內(nèi)窺鏡常用的測量方法。
工業(yè)內(nèi)窺鏡支持的絕對測量方法包括陰影測量、雙目標(biāo)測量、三維相位掃描測量和三維雙目標(biāo)測量。
陰影測量通常使用陰影測量專用透鏡在被測物體表面投影陰影線,系統(tǒng)使用陰影位置三角測量;
雙目標(biāo)測量方法使用雙目標(biāo)立體測量透鏡從不同角度測量同一目標(biāo);
三維立體相位測量是內(nèi)窺鏡檢測領(lǐng)域的一項(xiàng)突破性測量技術(shù)。主要掃描基于光柵的檢測區(qū)域,通過對包含相位信息的條紋圖像進(jìn)行相位分析和算法處理,得到被測物體的三維立體模型和三維立體相位掃描測量方法的原理圖;
三維立體雙目標(biāo)測量是在傳統(tǒng)的普通雙目標(biāo)測量的基礎(chǔ)上,采用傳統(tǒng)的普通的雙目標(biāo)測量透鏡,通過匹配最新的算法和標(biāo)定處理技術(shù),實(shí)現(xiàn)三維點(diǎn)云成像技術(shù)。
不同類型工業(yè)內(nèi)窺鏡的性能比較
在測量原理、操作方法等方面,雙目標(biāo)測量、三維立體相位掃描測量、三維三維立體雙目標(biāo)測量是比較先進(jìn)的測量方法,目前也有更專業(yè)的工業(yè)內(nèi)窺鏡支持。我們的工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡支持兩種新的3D測量方法:3D立體相位掃描測量方法和3D立體雙目標(biāo)測量方法。三維測量方法是萬能版本的標(biāo)準(zhǔn)配置,檢測版本和觸摸屏版本可以配備這兩種三維測量方法,使缺陷的輪廓和特征更加清晰,提高測量精度,降低維護(hù)和檢測成本,提高操作安全性
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